The alpha power Weibull transformation distribution applied to describe the behavior of electronic devices under voltage stress profile

This paper presents a life-stress methodology that models the failure rate in the form of a bathtub curve. The model consists of the Alpha Power Transformation (APT), which adds an extra parameter to the probability distributions to achieve better flexibility in the representation in the data an...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Méndez-González, Luis Carlos
Další autoři: Rodriguez Picon, Luis Alberto, Perez Olguin, Ivan Juan Carlos, Pérez Domínguez, Luis, Luviano Cruz, David
Médium: Artículo
Jazyk:en_US
Vydáno: 2022
Témata:
On-line přístup:https://doi.org/10.1080/16843703.2022.2071526
https://www.tandfonline.com/doi/full/10.1080/16843703.2022.2071526
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.