The alpha power Weibull transformation distribution applied to describe the behavior of electronic devices under voltage stress profile
This paper presents a life-stress methodology that models the failure rate in the form of a bathtub curve. The model consists of the Alpha Power Transformation (APT), which adds an extra parameter to the probability distributions to achieve better flexibility in the representation in the data an...
שמור ב:
מחבר ראשי: | Méndez-González, Luis Carlos |
---|---|
מחברים אחרים: | Rodriguez Picon, Luis Alberto, Perez Olguin, Ivan Juan Carlos, Pérez Domínguez, Luis, Luviano Cruz, David |
פורמט: | Artículo |
שפה: | en_US |
יצא לאור: |
2022
|
נושאים: | |
גישה מקוונת: | https://doi.org/10.1080/16843703.2022.2071526 https://www.tandfonline.com/doi/full/10.1080/16843703.2022.2071526 |
תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
פריטים דומים
-
A reliability analysis for electronic devices under an extension of exponentiated perks distribution
מאת: Méndez-González, Luis Carlos
יצא לאור: (2022) -
Reliability analysis using exponentiated Weibull distribution and inverse power law
מאת: Mendez Gonzalez, Luis Carlos
יצא לאור: (2019) -
Reliability analysis for DC motors under voltage step-stress scenario
מאת: Mendez Gonzalez, Luis Carlos
יצא לאור: (2020) -
Active power compensator for a DC voltage bus of a renewable source
מאת: Morfin, Onofre
יצא לאור: (2024) -
Weibull Analysis for Constant and Variant Stress Behavior Using the Alt Method for Single Stress and the Taguchi Method for Several Stress Variables
מאת: Piña Monarrez, Manuel Román
יצא לאור: (2018)