The alpha power Weibull transformation distribution applied to describe the behavior of electronic devices under voltage stress profile

This paper presents a life-stress methodology that models the failure rate in the form of a bathtub curve. The model consists of the Alpha Power Transformation (APT), which adds an extra parameter to the probability distributions to achieve better flexibility in the representation in the data an...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Méndez-González, Luis Carlos
Kolejni autorzy: Rodriguez Picon, Luis Alberto, Perez Olguin, Ivan Juan Carlos, Pérez Domínguez, Luis, Luviano Cruz, David
Format: Artículo
Język:en_US
Wydane: 2022
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:https://doi.org/10.1080/16843703.2022.2071526
https://www.tandfonline.com/doi/full/10.1080/16843703.2022.2071526
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

Podobne zapisy