A reliability analysis for electronic devices under an extension of exponentiated perks distribution

This paper presents a reliability analysis for electronic devices (ED) with bathtub curve-shaped failure times. An extension of the exponentiated perks distribution (EPD) is proposed for the analysis. The extension of this new distribution is based on the Alpha Power Transformation, so the Alpha...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Méndez-González, Luis Carlos
Další autoři: Quezada Carreon, Abel Eduardo, Rodriguez Picon, Luis Alberto, Perez Olguin, Ivan Juan Carlos, García, Vicente
Médium: Artículo
Jazyk:English
Vydáno: 2022
Témata:
On-line přístup:https://doi.org/10.1002/qre.3255
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/qre.3255
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!

Podobné jednotky