Study of indium tin oxide–MoS2 interface by atom probe tomography

Study of indium tin oxide–MoS2 interface by atom probe tomography

The molybdenum disulfide (MoS2) and indium tin oxide (ITO) interface were studied by atom probe tomography (APT). Raman spectroscopy, scanning electron microscopy, and grazingincidence x-ray diffraction measurements were performed as complementary characterization. Results confirm that nanowires pla...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Ramos Murillo, Manuel Antonio
مؤلفون آخرون: Nogan, Jhon, Boll, Torben, Kauffmman-Weis, Sandra, Rodriguez Gonzalez, Claudia, Enriquez Carrejo, Jose Luis, Helmaier, Martin
التنسيق: Artículo
اللغة:spa
منشور في: 2019
الموضوعات:
Indium tin oxide, MoS2, interface, atom probe
info:eu-repo/classification/cti/7
الوصول للمادة أونلاين:https://doi.org/10.1557/mrc.2019.150
https://www.cambridge.org/core/journals/mrs-communications/article/study-of-indium-tin-oxidemos2-interface-by-atom-probe-tomography/C513A268D236C9B9204BA128250865D9
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
كن أول من يترك تعليقا!
يجب تسجيل دخولك أولا

مواد مشابهة