Study of indium tin oxide–MoS2 interface by atom probe tomography

The molybdenum disulfide (MoS2) and indium tin oxide (ITO) interface were studied by atom probe tomography (APT). Raman spectroscopy, scanning electron microscopy, and grazingincidence x-ray diffraction measurements were performed as complementary characterization. Results confirm that nanowires pla...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας:	Ramos Murillo, Manuel Antonio
Άλλοι συγγραφείς:	Nogan, Jhon, Boll, Torben, Kauffmman-Weis, Sandra, Rodriguez Gonzalez, Claudia, Enriquez Carrejo, Jose Luis, Helmaier, Martin
Μορφή:	Artículo
Γλώσσα:	spa
Έκδοση:	2019
Θέματα:	Indium tin oxide, MoS2, interface, atom probe info:eu-repo/classification/cti/7
Διαθέσιμο Online:	https://doi.org/10.1557/mrc.2019.150 https://www.cambridge.org/core/journals/mrs-communications/article/study-of-indium-tin-oxidemos2-interface-by-atom-probe-tomography/C513A268D236C9B9204BA128250865D9
Ετικέτες:	Προσθήκη ετικέτας Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!

καταχωρήστε σχόλιο πρώτοι!

Study of indium tin oxide–MoS2 interface by atom probe tomography

Παρόμοια τεκμήρια