Study of indium tin oxide–MoS2 interface by atom probe tomography

Study of indium tin oxide–MoS2 interface by atom probe tomography

The molybdenum disulfide (MoS2) and indium tin oxide (ITO) interface were studied by atom probe tomography (APT). Raman spectroscopy, scanning electron microscopy, and grazingincidence x-ray diffraction measurements were performed as complementary characterization. Results confirm that nanowires pla...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Ramos Murillo, Manuel Antonio
מחברים אחרים: Nogan, Jhon, Boll, Torben, Kauffmman-Weis, Sandra, Rodriguez Gonzalez, Claudia, Enriquez Carrejo, Jose Luis, Helmaier, Martin
פורמט: Artículo
שפה:spa
יצא לאור: 2019
נושאים:
Indium tin oxide, MoS2, interface, atom probe
info:eu-repo/classification/cti/7
גישה מקוונת:https://doi.org/10.1557/mrc.2019.150
https://www.cambridge.org/core/journals/mrs-communications/article/study-of-indium-tin-oxidemos2-interface-by-atom-probe-tomography/C513A268D236C9B9204BA128250865D9
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
היה/י הראשונ/ה לכתוב הערה!
צריך להיות מחובר מראש

פריטים דומים