Study of indium tin oxide–MoS2 interface by atom probe tomography

The molybdenum disulfide (MoS2) and indium tin oxide (ITO) interface were studied by atom probe tomography (APT). Raman spectroscopy, scanning electron microscopy, and grazingincidence x-ray diffraction measurements were performed as complementary characterization. Results confirm that nanowires pla...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Ramos Murillo, Manuel Antonio
Другие авторы: Nogan, Jhon, Boll, Torben, Kauffmman-Weis, Sandra, Rodriguez Gonzalez, Claudia, Enriquez Carrejo, Jose Luis, Helmaier, Martin
Формат: Artículo
Язык:spa
Опубликовано: 2019
Предметы:
Online-ссылка:https://doi.org/10.1557/mrc.2019.150
https://www.cambridge.org/core/journals/mrs-communications/article/study-of-indium-tin-oxidemos2-interface-by-atom-probe-tomography/C513A268D236C9B9204BA128250865D9
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
Ваш комментарий будет первым!
Сначала войдите в систему